ITO薄膜厚度仪 隔膜厚度测量仪 台式膜厚测量仪
详细信息
| | 品牌：LABTHINK | | 加工定制：是 | | 型号：CHY-C2A | |
| | 类型：薄膜 | | 测量范围：0～2（常规）；0～6；12（可选） mm | | 显示方式：液晶数显 | |
| | 电源电压：220 V | | 外形尺寸：461×334×357 mm | | 分辨率：0.1μm | |
| | 测试压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa | | 接触面积：false | | | |
ITO薄膜是一种n型半导体材料，具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器（LCD）、等离子显示器（PDP）、电致发光显示器（EL/OLED）、触摸屏（TouchPanel）、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极*常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜，在透明导电薄膜方面得到普遍的应用，具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制，所以对ITO薄膜厚度的高精度测量，是企业必须重视的检测项目之一。
Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪，采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
ITO薄膜厚度仪 隔膜厚度测量仪 台式膜厚测量仪技术特征：
严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制
测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差
支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择
实时显示测量结果的*大值、*小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断
配置标准量块用于系统标定，保证测试的精度和数据一致性
系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果
系统由微电脑控制，搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看
标准的RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输
支持LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
ITO薄膜厚度仪 隔膜厚度测量仪 台式膜厚测量仪技术特征：
负荷量程：0～2 mm（常规）
0～6 mm；12 mm （可选）
分辨率：0.1 μm
测量速度：10 次/min （可调）
测量压力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
净重：32kg
以上【ITO薄膜厚度仪 隔膜厚度测量仪 台式膜厚测量仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布，如欲了解更详细信息，欢迎致电 垂询！
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