• ITO薄膜测厚仪 薄片测厚仪 薄片厚度测量仪

    详细信息

     品牌:Labthink兰光  加工定制:是  型号:CHY-C2A  
     类型:薄膜  测量范围:0~12 mm 显示方式:液晶数显  
     电源电压:220 V 外形尺寸:461×334×357 mm  
    ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器(EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极*常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。
    Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。
     
    ITO薄膜测厚仪技术特征:
    负荷量程:0~2 mm(常规)
         0~6 mm;12 mm (可选)
    分辨率:0.1 μm
    测量速度:10 次/min (可调)
    测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)
    接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)
         注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制
    电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
    外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
    净重:32kg
     
    以上【ITO薄膜测厚仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电 垂询!
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